机译:关于光热辐射测量参数可识别性理论的评述 可靠,独特的无损涂层厚度和热物理 测量,J.appl。物理学。 121(9),095101(2017)
机译:评论“光热辐射参数可识别性理论的可靠和独特的无损涂层厚度和热物理测量” [J。应用物理121,095101(2017)]
机译:回应“对'光热辐射参数可识别性理论的评论,以实现可靠而独特的无损涂层厚度和热物理测量” [J.应用物理122,066101(2017)]
机译:光热辐射法参数可识别性理论,用于可靠且独特的无损涂层厚度和热物理测量
机译:通过光热辐射测量在高温下无损测量热阻挡涂层(TBC)的热特性
机译:响应“对”光热辐射测定参数标识理论的“评论”,可靠,独特的无损涂层厚度和热物理测量“J。苹果。物理。 122,066101(2017)